现在大多数的采矿企业是将矿样送至远离现场的实验室检测，不但费时费力、成本昂贵，而且对于偏远的地方，这样做也是不切实际的。那拥有一款体积小、检测速度快、分析数据稳定可靠的X荧光光谱分析仪必将成为矿产企业必备仪器。X荧光
光谱分析仪因其体积小、重量轻、检测精度高，性能可靠，又可广泛应用于勘探开采过程中各阶段的矿样成分分析，也越来越被更多的矿产企业所接受。
X荧光光谱仪（XRF）由激发源和探测系统构成。X射线管产生入射X射线，激发被测样品，产生X荧光，探测器对X荧光进行检测。
X荧光光谱分析仪还可以对矿场描绘以及品位控制。通过实时就地分析多个样本，实现对开采计划进行指导，有效地管理挖掘、爆破工作，在现场确定土壤、沉积物或者钻孔样本的地质成分，以有效控制勘探成本。它也能够对矿石、矿渣、土壤、沉积物以及其他类似的样品进行快速的金属元素含量分析。无论是进行原地检测还是非原地检测，功能强大的计算软件能够自动消除由于不同样品的材质差异所造成的偏差，从而使操作者仅需将仪器探测头直接接近样品便可进行检测，而无需其他任何数据输入或者进行再次校准。根据对检测精度的不同要求，测试时间仅需数秒到数分钟。
